美國TSI 粒徑譜儀 3321

產(chǎn)品詳情

3321 空氣動(dòng)力學(xué)粒徑譜儀(APS?) 提供 0.5 至 20 微米粒徑范圍粒子的高分辨率、實(shí)時(shí)空氣動(dòng)力學(xué)檢測。這些*的粒徑分析儀還檢測 0.37 至 20 微米粒徑范圍粒子的光散射強(qiáng)度。APS 粒徑譜儀通過向同一粒子提供成對(duì)數(shù)據(jù)向有興趣研究氣溶膠組成的人士開辟了令人振奮的新途徑。

APS 粒徑譜儀使用取得*的雙峰光學(xué)系統(tǒng)，具有的粒徑檢測精度。它還包括新設(shè)計(jì)的噴嘴結(jié)構(gòu)和改進(jìn)的信號(hào)處理。因此，它具有更大的小粒徑檢測效率、提高的質(zhì)量分布精確度并有效消除錯(cuò)誤背景計(jì)數(shù)。

特點(diǎn)和優(yōu)勢(shì)

雙峰光學(xué)系統(tǒng)產(chǎn)生高精度檢測。

測量 0.37 至 20 μm 粒子的光散射強(qiáng)度

測量 0.5 至 20 μm粒子的空氣動(dòng)力學(xué)粒 徑

應(yīng)用范圍

吸入毒理學(xué)

給藥研究

大氣研究

環(huán)境空氣監(jiān)測

室內(nèi)空氣質(zhì)量監(jiān)測

濾料和空氣清潔器測試

測試氣溶膠特性

粉塵粒徑檢測

所含項(xiàng)

TSI3321_相關(guān)參數(shù)_詳情介紹.PDF