更新時間：2024-03-17
產品詳情 TSI推出的SMPS TM 掃描電遷移粒徑譜儀被廣泛用于測量1微米以下的氣溶膠粒徑分布的測量 標準。選配3777型納米增強儀以及3086型DMA差分電遷移分析儀（1nm-DMA）組件后，SMPS粒徑譜 儀能夠測量納米的粒徑范圍擴展至1nm。。以下特性和優勢是基于由 3082 型靜電分級器 、 1nm-DMA差分遷移分析儀 、 3777型納米增 強儀 、3772型凝聚粒子計數器 等組
產品詳情
TSI推出的SMPS TM 掃描電遷移粒徑譜儀被廣泛用于測量1微米以下的氣溶膠粒徑分布的測量 標準。選配3777型納米增強儀以及3086型DMA差分電遷移分析儀（1nm-DMA）組件后，SMPS粒徑譜 儀能夠測量納米的粒徑范圍擴展至1nm。。
以下特性和優勢是基于由 3082 型靜電分級器 、 1nm-DMA差分遷移分析儀 、 3777型納米增 強儀 、3772型凝聚粒子計數器 等組件共同組成的SMPS掃描電遷移粒徑譜儀。
特性和優勢
高分辨率粒徑分布
+ 64通道/10倍粒徑
+ 1到50nm之間多于109通道
給您比較大靈活度的組件設計
1nm到50nm的極寬粒徑范圍
+和3081A型長差分電遷移分析儀配套使用能夠測量1nm到1um
三個數量級的粒徑
化設計，將散逸損失降到比較低，系統高度整合
通過氣溶膠儀器管理（AIM）軟件進行系統操作
離散顆粒物測量：多模態樣品測量效果*
應用
基礎氣溶膠研究
顆粒成核及生長研究
大氣及氣候研究
燃燒及發動機排放研究
過濾器及空氣凈化器測試
吸入或暴露艙研究
健康影響因素研究
